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Hefei Ruisheng Instrument Co., Ltd.
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Spettrometro di fluorescenza X a dispersione energetica EDX4500H
Spettrometro di fluorescenza X a dispersione energetica EDX4500H
Dettagli del prodotto

Spettrometro di fluorescenza X a dispersione energetica

Numero di modello: EDX4500H

Descrizione del prodotto, parametri tecnici e configurazione

Parametri di prestazione

Codice prodotto: EDX 4500H

Nome del prodotto: Spettrometro fluorescente X

Gamma di elementi di misura: dal sodio (Na) all'uranio (U)

Rango di analisi del contenuto di elementi: ppm-99,99% (diversi elementi, intervallo di analisi diverso)

Analisi simultanea degli elementi: decine di elementi misurabili in una volta

Tempo di misurazione: 60-200 secondi

Risoluzione energetica del rilevatore: 145 ± 5eV

Pressione del tubo: 5KV-50KV

Corrente di tubo: 50μA-1000μA

Stato dell'oggetto misurato: polvere, solido, liquido

Tensione di ingresso: AC 110V / 220V

Temperatura ambiente: 15 ℃-30 ℃

Umidità ambientale: 35%-70%

Dimensioni: 660mm x 510mm x 350mm

Volume della cavità del campione: Φ320mm x 100mm

Peso: 65 kg

Caratteristiche delle prestazioni

Tubo a raggi X per finestre ultrasottili ad alta efficienza, indicatori che raggiungono livelli avanzati internazionali

La nuova tecnologia multicanale digitale consente di effettuare test più veloci, contando fino a 100.000 CPS e con maggiore precisione. Migliore effetto nel controllo delle leghe

Rilevatore di deriva di silicio SDD, buona linearità energetica, risoluzione energetica e caratteristiche spettrali energetiche, elevato rapporto di picco

I raggi X a bassa energia stimolano gli elementi da misurare, buon effetto di stimolazione degli elementi leggeri come Si e P

Sistema di pompaggio intelligente per il vuoto che protegge l'impatto dell'aria e estende notevolmente la portata della prova

Dispositivo automatico di stabilizzazione dello spettro garantisce la coerenza del lavoro dello strumento

Unità di circuito elettronico ad alto rapporto segnale-rumore

Commutazione automatica di rettificatori e filtri per campioni diversi per evitare l'ingombrante manipolazione manuale

La tecnica di decomposizione spettrale permette di decomporre i picchi spettrali, rendendo i risultati dei test degli elementi misurati con una precisione analitica pari

Il metodo di regressione lineare multiparametrica permette di sopprimere in modo evidente l'assorbimento e l'effetto di potenziamento tra gli elementi

Telecamera ad alta definizione integrata

Lo schermo LCD rende chiari i parametri importanti dello strumento (pressione del tubo, flusso del tubo, vuoto)

Configurazione standard

Tubo a raggi X per finestre ultrasottili ad alta efficienza

Rilevatore di deriva di silicio SDD

Tecnologia digitale multicanale

Accessori per la prova dell'industria siderurgica

Sistema di miglioramento ottico

Unità di linea elettronica ad alto rapporto segnale-rumore

Telecamera ad alta definizione integrata

Rettificatori e filtri a commutazione automatica

Dispositivo di stabilizzazione automatica dello spettro

Modalità di protezione tripla

Modello di correzione degli effetti del substrato indipendente

Regressione non lineare multivariabile

Struttura integrale in acciaio, garanzia di forza affidabile

schermo LCD da 90mm x 70mm

Pompa per vuoto

Area di applicazione

Rilevamento dell'acciaio, analisi integrale, rilevamento degli elementi nocivi (RoHS, alogeni, ecc.)

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