WeibangTest di invecchiamento accelerato ad alta pressione HAST:La camera di prova di stress altamente accelerata viene utilizzata per simulare l'ambiente di alta temperatura e alta pressione umida del chip, per eseguire test di invecchiamento accelerato per un determinato periodo di tempo per verificare l'affidabilità e la durata del chip nel tempo più breve possibile, migliorando così la qualità e l'affidabilità del prodotto.

► Prima gamma di prova della pressione di apertura del settore fino a 4KG,

► Progetto della porta della scatola automatica, apertura della porta della scatola di controllo a pulsante, protezione dalla pressione,

► Algoritmo di controllo PID integrato per garantire la precisione dei valori di temperatura, umidità e pressione,

► Compatibile con le prove di caldo umido costante (HAST) e cottura ad alta pressione (PCT) per vapori insaturi ad alta pressione,

Soddisfare gli standard di prova：

AEC Q101 (chip di classe automobilistica)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Prova ambientale di prodotti elettrici ed elettronici Parte 2: Metodo di prova Cx: Calore umido costante di vapore ad alta pressione insaturato

IEC60068-2-66-1994 Prove ambientali. Parte 2-66: Metodi di sperimentazione. Test Cx: Calore umido a stato stabile

Lifetime di spostamento di temperatura e umidità del ciclo JESD22-A100

JESD22-A101 Temperatura a stato stabile, umidità / sottopressione, prova di durata (durata di sottopressione a temperatura e umidità)

JESD22-A102 Test di cottura ad alta pressione (accelerazione della penetrazione anti-umidità)

JESD22-A108 Temperatura, tensione di bias e durata di funzionamento

JESD22-A110 HAST Test di stress ad alta accelerazione a temperatura e umidità

JESD22-A118 Temperatura, umidità e stress ad alta accelerazione senza bias UHAST (vapore ad alta tensione insaturato senza bias)

* Possibilità di personalizzare qualsiasi parametro specifico