
Nasce una linea di prodotti che utilizzano una nuova gamma di fotofocalizzazione a raggi X. Inoltre, la struttura di rilevamento a raggi X è incentrata sulla migliore ottimizzazione di vari tipi di componenti, migliorando così notevolmente la sensibilità di rilevamento e l'alta capacità di elaborazione ottenuta senza perdere la precisione di rilevamento. Inoltre, l'apparecchiatura è stata ridisegnata per rendere più facile l'uso della camera dei campioni e l'ispezione dei punti di rilevamento.
Prova di alta precisione nel campo della microscopia
Attraverso l'adozione del nuovo capillare e l'ottimizzazione del rilevatore, la capacità di elaborazione è stata ulteriormente aumentata a oltre il doppio, ottenendo un raggio di irradiazione equivalente al vecchio modello FT9500X di 30 μm (FWHM previsto: 17 μm).
2. linee di prodotti adattati a tutti i tipi di campioni di ispezione
Per i diversi tipi di campioni di rilevamento, è possibile scegliere tra i seguenti 3 modelli.
· Modelli di microcomponenti e pellicole ultrasottili per la misurazione di diversi tipi di componenti elettronici, come portacavi, connettori, ecc.
· Capacità di gestire dimensioniModelli per schede stampate di grandi dimensioni di 600 mm x 600 mm
· Adatto per le sezioni di elettrodi di chip in ceramica che in passato erano difficili da misurare contemporaneamenteModello con due strati Sn/Ni per misurazioni ad alta energia
Equilibrio tra facilità operativa e sicurezza
L'apertura è ampliata e la porta della camera del campione può essere aperta e chiusa con una sola mano. Questo migliora la semplicità di utilizzo per l'estrazione e l'inserimento dei campioni di rilevamento, e la struttura di tenuta riduce notevolmente il rischio di perdite a raggi X, garantendo agli utenti la sicurezza di usarli.
La zona di ispezione è visibile
Impostando grandi finestre di osservazione e modificando il layout dei componenti, la porta della camera del campione consente di osservare facilmente le parti di rilevamento anche in stato chiuso.
Immagini di campione chiare
Utilizzando una telecamera di osservazione del campione con una risoluzione più alta che mai, lo zoom completamente digitale elimina le deviazioni di posizione e consente di osservare con chiarezza campioni minuscoli di decine di μm.
Inoltre, il LED è utilizzato come lampada di osservazione di campione, senza la necessità di sostituire le lampadine come i modelli precedenti.
Nuova GUI
I vari metodi di rilevamento e i campioni di rilevamento sono registrati sotto forma di icone dell'applicazione. Le icone sono le foto del campione di rilevamento, le icone della pellicola a più strati, ecc., quindi la registrazione e l'organizzazione sono molto convenienti, in modo che l'utente possa effettuare il controllo direttamente senza deviare.
Usa la finestra della guidata di rilevamento per guidare le operazioni. Guida gradualmente l'utente a svolgere il lavoro attualmente richiesto, collegandolo alla schermata di rilevamento.
| Modello | FT150 (tipo standard) | FT150h (tipo ad alta energia) | FT150L (per schede di circuito di grandi dimensioni) |
|---|---|---|---|
| Elementi di misura | Numero di ordine atomico: 13(Al)-92(U) | ||
| Fonte di raggi X | Tensione del tubo: 45 kV | ||
| Motarget | Wtarget | Motarget | |
| Rilevatore | Rilevatore a semiconduttore Si (SDD) (senza azoto liquido) | ||
| Focus a raggi X | Metodo di conduttore di concentrazione | ||
| Osservazione campioni | Telecamera CCD (1 megapixel) | ||
| Focus | Focus laser, messa a fuoco automatica | ||
| Dimensioni massime del campione | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 400(W) × 300(D) × 100(H) mm | 600(W) × 600(D) × 20(H) mm |
| Piano di lavoro | 400(W) × 300(D) mm | 400(W) × 300(D) mm | 300(W) × 300(D) mm |
| Sistema operativo | Computer, schermo LCD da 22 pollici | ||
| Software di misurazione | Metodo FP a film sottile (fino a 5 strati di film, 10 elementi), linearità di ispezione, analisi qualitativa | ||
| Trattamento dei dati | Installazione di Microsoft Excel e Microsoft Word | ||
| Funzioni di sicurezza | Serratura della porta del campione | ||
| Consumo di energia | Sotto 300 VA | ||
Opzioni di acquisto
Software di corrispondenza spettrale (riconoscimento dei materiali)
BloccoFP (misurazione della composizione metallica)
Impostazioni dei limiti di operazione del campione
Strumenti a wafer (FT150/FT150h)
Touch Panel
Luci di segnale
Stampante
Scatola di arresto di emergenza
- Misuratore di spessore per rivestimenti fluorescenti a raggi X ad alte prestazioni serie FT150
L'FT150 utilizza un fascio di raggi X ad alta intensità con un diametro di irradiazione di 30 µm generato da un policapillare, ideale per la valutazione analitica ad alta precisione di piccoli componenti e rivestimenti ultrasottili come portacavi, connettori microscopici, schede di circuito flessibili.
