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Changsha Kemei Analytical Instrument Co., Ltd.
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Hitachi UV/Visibile/Vicino Infrarosso Spettrofotometro UH4150
Ulteriori miglioramenti tecnologici basati sull'esperto spettrometro di analisi solide U-4100, l'UH4150!
Dettagli del prodotto

Hitachi UV/Visibile/Vicino Infrarosso Spettrofotometro UH4150

Introduzione del prodotto:

Ulteriori miglioramenti tecnologici basati sull'esperto spettrometro di analisi solide U-4100, l'UH4150!

UH4150 è un esperto di prodotti di spettrofotometri a sfere integrate, adatto per lo studio delle prestazioni spettrali di semiconduttori, componenti ottici e nuovi materiali, è un sistema di spettrofotometria potente. L'UH4150 è un sistema ad alte prestazioni adatto ai test di campioni solidi, liquidi e turbosi.


Parametri tecnici:

Larghezza di banda spettrale:

0,1 nm

Precisione della lunghezza d'onda:

± 0,2 nm

Diffusione di luce (S.L.):

±0,00008%T

Intervalo di lunghezza d'onda:

175nm ~ 3300nm

Grado di automatizzazione:

Lunghezza d'onda automatica

Intervalo di lunghezza d'onda:

Visibile all'infrarosso vicino

Tipo di ricevitore:

Array di fotodiodi

Struttura dello strumento:

Doppio raggio

Caratteristiche tecniche:

(1) La variazione della lunghezza d'onda del rilevatore produce una piccola differenza di segnale, anche in questo modo l'UH4150 può ottenere una misurazione di alta precisione.

Grazie all'utilizzo della tecnologia di costruzione a sfere integrate e della tecnologia di elaborazione del segnale di Hitachi, la variazione del valore di assorbimento (differenza di livello del segnale) è ridotta a zui.

(2) Il sistema monocromatico prisma-raster Hitachi ad alte prestazioni consente una bassa dispersione luminosa e una bassa polarizzazione.

I sistemi prisma-griglia (P-G) non hanno un grande cambiamento nell'intensità della luce polarizzata S e P rispetto ai comuni sistemi griglia-griglia (G-G). Anche per campioni con bassa trasmissione e riflessività, l'UH4150 consente misurazioni a basso rumore.

(3) Il fascio parallelo può realizzare una misurazione precisa della luce riflessa e della luce diffusa.

Il raggio di luce parallelo, che rimane sempre lo stesso rispetto all'angolo di ingresso del campione, consente la misurazione della riflessività dello specchio ad alta precisione. Inoltre, i fasci paralleli possono essere utilizzati per la valutazione della diffusione (nebulosità) e la misurazione della trasmissione della lente.

(4) Possono essere forniti più rilevatori adatti a diversi scopi di misurazione.

Palle integrali in otto diversi materiali, dimensioni e forme

(5) Adottare un nuovo design ergonomico.

Migliorare le porte della camera del campione e migliorare la funzionalità. Per facilitare la sostituzione dei campioni e degli accessori, è stato adottato un design ergonomico.

Compatibile con diversi accessori U-4100.

Gli accessori universali sono disponibili in entrambi i modelli. Gli accessori del tipo U-4100 sono disponibili anche nel tipo UH4150 a causa degli accessori rimovibili, adatti a più tipi di misurazione.

(7) Flusso di campione superiore rispetto al modello U-4100.

Il modello UH4150 può essere misurato ad intervalli di 1 nm a velocità di scansione di 1.200 nm/min, riducendo notevolmente i tempi di misurazione.

Applicazioni:

Può essere utilizzato per liquidi, liquidi torbidi e solidi. Possono essere realizzate prove senza danni di assorbimento / trasparenza / riflessione di vari materiali ottici ed elettronici, tra cui polvere, vetro, film ottici, materiali di pellicola, lenti, prisma, singoli chip e schede di circuito liquido. Ampiamente utilizzato nello studio delle prestazioni spettrali di semiconduttori, componenti ottici, apparecchiature fotoelettriche e nuovi materiali, per ottenere dati spettrali di assorbimento, trasmissione completa, trasmissione positiva, diffusione, riflessione completa, riflessione positiva, riflessione diffusa e altri campioni.

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