Descrizione del prodotto
La serie CMI 760 è progettata per soddisfare le esigenze di misurazione dello spessore di rame e controllo della qualità nell'industria dei circuiti stampati.Il CMI760 può essere utilizzato per misurare lo spessore di rame superficiale e di rame all'interno della perforazione. Questo sistema di misura di spessore altamente scalabile utilizza sia la microresistenza che il flusso di turbine elettriche per ottenere misure precise e precise dello spessore del rame superficiale e del rame all'interno della perforazione. Il sistema di misura desktop CMI 760 è estremamente versatile e scalabile, e la compatibilità con più sonde lo consente di soddisfare una vasta gamma di esigenze di applicazioni, tra cui la misura dello spessore del rame superficiale, del rame all'interno della perforazione e del rame all'interno dei micropori, nonché la prova della qualità del rame all'interno dei pori.Inoltre, il CMI760 dispone di funzionalità statistiche avanzate per l'analisi dei dati di test.
CMI760: misuratore di spessore di rame ad alta flessibilità, misuratore di spessore di rame e rame superficiale per fori di circuito, misuratore di spessore da tavolo per misurare lo spessore del rame superficiale e della rivestimento di rame all'interno dei fori mediante microresistenza e flusso di turbine elettriche. Funzionalità statistiche multifunzionali, altamente scalabili e avanzate per l'analisi dell'organizzazione dei dati.
La configurazione CMI 760 include:
CMI700 Host e Certificati
Sonda in rame SRP-4
Sonda per sostituzione della sonda SRP-4 (1)
Certificazione NIST con schede SRP e certificati
Sonda di rame ETP
Certificazione NIST con schede standard ETP e certificati
Accessori opzionali:
Software SRG |
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SParametri tecnici della prova della sonda in rame RP-4 |
Parametri tecnici della prova della sonda di rame a fori ETP |
Gamma di misura dello spessore del rame:
Rame chimico: 0,25 μm - 12,7 μm (10 μin - 500 μin)
Rame galvanizzato: 2,5 μm - 254 μm (0,1 mils - 10 mils)
Gamma di larghezza lineare del filo di rame: 203μm - 7620μm (8mil - 300mil)
Precisione: ±1% (±1μm) Scheda standard di riferimento
Precisione: rame chimico: deviazione standard 0,2%, rame galvanizzato: deviazione standard 0,3%
Risoluzione: 0.1μm≥10μm, 0.01μm <10μm, 0.001μm <1μm, 0.01mils≥1mil, 0.001mils <1mil
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Foro misurabile * piccolo diametro: Φ0.899mm (35mils)
Intervalo di apertura: 0,899 mm - 3,0 mm
Gamma di spessore: 2μm - 102μm (0,08 - 4,0mils)
Precisione: ± 0.01mils (0.25μm) <1mil (25μm)
Precisione: 1,2 milS fino all'1% (in caso di laboratorio)
Risoluzione: 0,01 mils (0,25 μm)
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Parametri tecnici della prova della sonda TRP-M (microporosa) |
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Intervalo di diametro dei fori testabili: 10-40 mils (254-101)6 μm)
Intervalo di prova dello spessore del rame all'interno del foro: 0,5-2,5 milimilimetri (12,7-63,5 μm)
Spessore della scheda di prova: 175mil (4445 μm)
* Piccolo spessore della scheda testabile: il piccolo valore dello spessore della scheda deve essere superiore a 3 mils (76,2 μm) rispetto al valore dell'apertura del piccolo foro della scheda di circuito di prova corrispondente
Precisione (metallografia di contrasto): ± 0,01 mil (0,25 μm) < 1 mil (25 μm)
±10%≥1mil(25 μm)
Precisione: non è consigliato eseguire più prove sullo stesso foro
Risoluzione: 0,01 mil (0,1 μm)
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Sonda TRP:Dotato di una sonda TRP, il CMI760 consente di testare con precisione la qualità della perforazione, comprese le crepe, i fori e le irregolarità del rame rivestito all'interno del foro. Il sistema di misura a 36 punti di TRP è di Oxford Instruments e quantifica la qualità del rame perforato, e solo Oxford Instruments possiede questo prodotto. La sonda a forma di cono garantisce la ripetibilità dei tre punti di contatto per garantire l'accuratezza, la ripetibilità e la riproducibilità delle misurazioni.
Specifiche tecniche dell'host |
Storia: 8.000 byte Dimensioni dello strumento: 292x270x140mm
Peso dello strumento: 2,79 kg
Unità di misura: um、mils、μin、in、mm、% Facoltativo, conversione automatica in metrica inglese con un tasto
Interfaccia: interfaccia seriale RS232, tasso di portata regolabile per il download su stampante o computer
Display: LCD a 6 bit, schermo LCD con retroilluminazione e ampia visione, 480 (H) * 32 (V) pixel
Statistiche: numero di misure, media, deviazione standard, * valore massimo, * valore minimo
Rapporto statistico: download con stampante seriale o computer, posizione di archiviazione, numero di misure, tipo di foglio di rame, larghezza lineare del filo di rame, data e ora di misura, valore medio, deviazione standard, percentuale di varianza, precisione, * valore alto, * valore basso, campo di valore, valore CPK, letture singole, timbro orario, istogramma
Grafici: istogrammi, grafici di tendenza, grafici X-R
Alimentazione: AC220V |
A proposito di noi / About Us
I prodotti e le soluzioni di sistema di Duzhi Instrument (Shanghai) Co., Ltd. sono ampiamente utilizzati nei laboratori di ricerca e nelle linee di produzione, nel controllo di qualità e nelle industrie dell'istruzione quali grandi e medie imprese statali, produzione automobilistica, macchinari di precisione, elaborazione di stampi, potenza elettronica, fusione metallurgica, aerospaziale, costruzione ingegneristica, college e università. Essi sono utilizzati per valutare le caratteristiche geometriche e le proprietà fisiche e chimiche dei materiali, componenti e strutture e promuovere l'eccellenza della tecnologia di produzione avanzata.