Il campione per il test EBIC deve essere un materiale semiconduttore e contenere un campo elettrico interno per separare le coppie di elettroni vuoti.
Mediante la misurazione, possiamo ottenere la posizione e la larghezza del nodo PN, lo studio della curva IV per determinare le caratteristiche della rettifica, la lunghezza di diffusione di un piccolo numero di vettori, lo studio della posizione dei difetti, l'analisi dei guasti dei dispositivi elettronici.

Esempio 1: Posizione del nodo PN di prova, larghezza, lunghezza di diffusione minore

Esempio 2: testare la densità di errore di punto del materiale semiconduttore e calcolare quantitativamente l'errore di punto della spirale nel materiale delle celle solari Si.