Name: Sigma ZEISS
Brand: Zhejiang Longtong precisione strumenti Co., Ltd.
Availability: InStock

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Sigma ZEISS

La linea di prodotti Sigma combina l'emissione di campo e la tecnologia di microscopia elettronica a scansione (FE-SEM). La sua caratteristica più not

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La linea di prodotti Sigma combina l'emissione di campo e la tecnologia di microscopia elettronica a scansione (FE-SEM).
La sua caratteristica più notevole è la sua eccezionale performance di imaging e analisi.
Con Sigma, utilizzerai metodi come
Blocco d'aria integrato, geometria EDS di prim'ordine e flusso di lavoro intuitivo con soli quattro passaggi.
Sigma fornisce la tecnologia del rivelatore per l'imaging ad alta risoluzione.
Questo microscopio è progettato per gestire diverse operazioni
Le condizioni possono essere adattate per adattarsi perfettamente alla vostra applicazione.
Sigma produce immagini di alta qualità, chiare e ad alto contrasto - dalle nanoparticelle e nanofibre ai semiconduttori e componenti MEMS, fino alle celle solari.
Fornisce informazioni su terreno, composizione, cristallografia e distribuzione degli elementi per una caratterizzazione completa del campione.
Configura in base alle tue esigenze
risoluzione
0,8 nm 30kv (STEM)
0 a 15 kV. 8nm
1,6 nm a 1 kV
2,0 nm, 30kV (modalità VP)
Accelerazione della tensione
0,02 - 30kv
Il campione è attualmente
4pa -20na (100na opzionale)
amplifica
10 - 1,000,000 ×
il trasmettitore
Emittente di campo Schottky
rivelatore standard
Inlens SE, rivelatore ETSE, VPSE-G4 (modalità VP)

Semplice. Più intelligente. Più integrazione.
I flussi di lavoro automatizzati ti guidano passo dopo passo per migliorare la produttività.
Sigma fornisce prestazioni analitiche di altissimo livello, specialmente quando si tratta di campioni sensibili al fascio.
Le serrature d'aria integrate possono raggiungere un'elevata capacità di campionamento per wafer fino a 5 "di dimensione.
Ottimizzare l'ottica combinando campi elettrostatici e magnetici
Ridurre contemporaneamente l'impatto del campo sulle prestazioni del campione.
Il rilevatore Inlens Duo per segnali SE e BSE consente di ottenere informazioni sul terreno e sulla composizione in un unico rilevatore.
La tecnologia Gemini beam booster consente piccoli diametri del fascio e elevati rapporti segnale-rumore, anche a tensioni di accelerazione estremamente basse.
Crea per la tua applicazione
Analizzare i materiali e i componenti di produzione richiesti
Informazioni sul terreno ad alta risoluzione di microstrutture danneggiate e componenti MEMS.
Creazione in tempo reale di misure di superficie 3D per componenti lavorati di precisione per determinare le cause di fratture e difetti.
• Utilizzare una vasta gamma di rivelatori per creare alta risoluzione
Imaging and analysis of nanomaterials.
Analizzare rivestimenti e film per rivelare dettagli superficiali nascosti di particelle non conduttive.
• Utilizzare la piattaforma elettrica Descartes per elaborare campioni di metallo di grandi dimensioni nella camera per la pulizia del plasma in situ per mantenere alta qualità dell'immagine, ottenere cristalli e canali
contrasto.
La barriera atmosferica di Sigma consente di sostituire rapidamente i wafer su campioni semiconduttori ed elettronici.
Cattura immagini del terreno degli strati degli elementi ad alto ingrandimento

Zeiss Measurement Solutions

Wittmann

Nidec Motors

Henschel

GRASS

Cummins

LT Ultra

SABS

Xiongbang Die Casting

Volkswagen

Bosch

IAC

Agusta Westland

Andrew Tool

Jamco Aeropspace

Three-M Tool

Moventas

Pietro Rosa

PMT India

Rochester Precision Optics

Schwan Cosmetics

Agfa Healthcare

CardioBridge

MeadWestvaco

Braun

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