Adottando il design di irradiazione superiore, non preoccuparsi di inquinare la strada luminosa, problemi di pulizia e aumentare il tempo di pulizia. Raccogli i vantaggi di tutte le serie ZSX: sistema a doppio vuoto, controllo automatico del vuoto, mapping / analisi microzonale, sensibilità eccellente agli elementi ultraleggeri e pulizia automatica del filo di core, ecc. ZSX PrimusIV consente l'analisi flessibile di campioni complessi. Il tubo finestra ultrasottile di 30 μm garantisce la sensibilità dell'analisi degli elementi leggeri. I pacchetti di mappatura più avanzati rilevano omogeneità e mescolanze. ZSX Primus IV completamente attrezzato per affrontare le sfide dei laboratori del XXI secolo

Scopo di analisi delle caratteristiche:

Be-U Più piccola superficie Analisi microzonale Progettazione fotografica Finestra ultrasottile 30 μm Mapping: Distribuzione degli elementi He Sigillatura: la camera del campione è sempre in vuoto

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV è uno spettrometro di fluorescenza a raggi X a lunghezza d'onda diffusa continua (WDXRF) a tubo o superiore che consente di quantificare rapidamente gli elementi atomici primari e secondari dal berilio (Be) all'uranio (U), tipo di campione - con standard minimi.

Nuovo software XRF per il sistema di guida esperto ZSX

La guida ZSX supporta tutti gli aspetti della misurazione XRF e dell'analisi dei dati. L’analisi accurata può essere effettuata solo da esperti? No, è il passato. Il software ZSX Guidance dispone di competenze XRF integrate e di competenze specializzate per gestire impostazioni complesse. L'operatore deve semplicemente inserire le informazioni di base sui campioni, sui componenti di analisi e sulla composizione standard. Le linee di misura con sovrapposizione minima, sfondo ottimale e parametri di correzione (compresa la sovrapposizione delle linee) possono essere impostate automaticamente con lo spettro di massa.

Prestazioni XRF leggere eccellenti con ottica invertita per affidabilità superiore

ZSX Primus IV ha l'ottica innovativa di cui sopra configurazione. Grazie alla manutenzione della camera del campione, non c'è più bisogno di preoccuparsi di percorsi di fascio contaminati o di tempi di fermo. La geometria sopra i componenti ottici elimina i problemi di pulizia e prolunga il tempo di utilizzo. Lo spettrometro ZSX Primus IV WDXRF offre prestazioni eccellenti e flessibilità nell'analisi dei campioni più complessi, utilizzando un tubo da 30 micron, il tubo a finestra terminale più sottile del settore, che offre un eccellente limite di rilevamento di elementi leggeri (bassa Z).

Mappa e analisi XRF multipunto

In combinazione con l'imballaggio di mappatura più avanzato per rilevare l'uniformità e l'involucro, ZSX Primus IV consente di effettuare semplici e dettagliate studi spettrometrici XRF sui campioni per fornire informazioni analitiche difficili da ottenere con altri metodi di analisi. L'analisi multipunto disponibile aiuta anche a eliminare gli errori di campionamento in materiali non uniformi.

Parametri di base di SQX con il software EZ-scan

La scansione EZ consente all'utente di effettuare analisi elementari XRF su campioni sconosciuti senza impostazione anticipata. La funzione di risparmio di tempo richiede solo pochi clic del mouse e l'inserimento del nome del campione. In combinazione con il software parametrico di base SQX, può fornire i risultati XRF più accurati e veloci. SQX corregge automaticamente tutti gli effetti della matrice, compresa la sovrapposizione delle linee. SQX può anche correggere l'effetto di eccitazione secondaria di fotoelettronica (luce e elementi ultraleggeri), diverse atmosfere, impurità e diverse dimensioni di campione. L'utilizzo di librerie di corrispondenza e un programma di analisi di scansione perfetto migliora la precisione.

Caratteristiche

• Analisi elementare da Be a U

• Software di sistema per esperti di guida ZSX

• Analizzatore digitale multicanale (D-MCA)

• Interfaccia di analisi EZ per misurazioni convenzionali

• L'ottica sopra i tubi riduce al minimo i problemi di inquinamento

• Piccola superficie e spazio di laboratorio limitato

• Traceanalisi per analizzare campioni fino a 500 μm

• I tubi a 30 μm offrono eccellenti prestazioni di elementi leggeri

• Geografia/distribuzione degli elementi della funzione di mappatura

• La tenuta all'elio significa che l'ottica è sempre sotto vuoto

•