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Italiano
Strumento e misuratore
Brooke JV-QC3 diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione XRD
Apparecchiatura continua di misurazione dello spessore del film e della resistenza a quattro sonde
caratteristica elettrica
Adesione film
Misura morfologica superficiale dei wafer di silicio
Sistema di misurazione dello spessore delle cialde
Tester di curva I-V
Rilevatore di stringhe fotovoltaiche 1500V
Rilevatore fotovoltaico conveniente
preamplificatore sensibile alla carica
Sonda microscopica a forza atomica/sonda AFM
Elenco dei modelli di sonda comunemente usati per il microscopio atomico della forza Bruker
Ha's groove
Piastra di Ha (piastra di ottone)
Ha's slot raddrizzator
Servizi di prova - Introduzione
processore di impulsi digitali
sacchetto filtro
Analizzatore XRF portatile
Identificazione dell'affidabilità dei materiali (PMI)
Analizzatore portatile dei metalli pesanti del suolo
Spettrometro XRF portatile
Spettrometro fluorescente a raggi X a riflessione completa TXRF
Analizzatore XRF di scansione del cuore roccioso
Spettrometro di imaging fluorescente a raggi X ad elementi ultraleggeri
Successful operation!
